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Wissen & Umwelt

Summm summm summm

Bienenhintern, aufgenommen mit Hilfe eines Rasterelektronenmikroskops (Foto: Stefan Diller)

Das Hinterteil einer Biene, 160.000-fach vergrößert, aufgenommen mit einem Rasterelektronenmikroskop. Der Fotograf ist der Würzburger Stefan Diller. Einen ganzen Tag lang brauchte er für diese beeindruckende Aufnahme und wurde jetzt für sein Durchhaltevermögen belohnt. Diller gewann mit seinem Bienenhintern den internationalen Wissenschaft-Wettbewerb "Best Image Contest".

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